Logic Test Socket

可应用在汽车电子装备, AP, CPU, GPU, PMIC, RF, TOUCH SENSOR, Mixed Signal等的Non-memory semiconductor test以外, 还可以应用在 BGA, MLF, QFN, QFP, CSP等的 Semiconductor package测试。

根据客户的要求, INNO GLOBAL可以设计被使用在Memory Semiconductor Test的Socket。