Memory Test Socket

DRAM, LPDDR, Flash Memory 등 메모리 반도체 테스트에 적용 가능한 Test Socket

BGA, MLF, QFN, QFP, CSP, etc 다양한 형태의 반도체  패키지 테스트에  적용 가능 합니다.

Mechanical  Specifications

pakage BGA, MLF ,QFN, QFP, CSP etc
Available pitch Over 0.2mm pitch
Characteristics 비메모리 반도체 테스트용 소켓 – 고객의 요구에 따른 디자인 설계 가능
Over 20Ghz @ -1 db
기존 PCR 소켓과 호환 가능