Logic Test Socket

자동차 전장, AP, CPU, GPU, PMIC, RF, TOUCH SENSOR, Mixed Signal 등
비메모리 반도체 테스트에 적용 가능한 Test Socket.
BGA, MLF, QFN, QFP, CSP, etc 다양한 형태의 반도체 패키지 테스트에 적용 가능 합니다.

Specifications

Package BGA, MLF, QFN, QFP, CSP, etc
Available pitch 0.25mm pitch ~
Characteristics 비메모리 반도체 테스트용 소켓 – 고객의 요구에 따른 디자인 설계 가능