Logic Test Socket
자동차 전장, AP, CPU, GPU, PMIC, RF, TOUCH SENSOR, Mixed Signal 등
비메모리 반도체 테스트에 적용 가능한 Test Socket.
BGA, MLF, QFN, QFP, CSP, etc 다양한 형태의 반도체 패키지 테스트에 적용 가능 합니다.
Specifications
| Package | BGA, MLF, QFN, QFP, CSP, etc |
|---|---|
| Available pitch | Over 0.2mm Pitch |
| Characteristics | 비메모리 반도체 테스트용 소켓 – 고객의 요구에 따른 디자인 설계 가능 Over 20Ghz @ -1 db 기존 PCR 소켓과 호환 가능 |
